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    • [其它类别] 分立器件检测仪iv+cv测试仪 日期:2024-05-27 09:36:01点击:106

      概述: SPA-6100半导体参数分析仪是武汉普赛斯自主研发、精益打造的一款半导体电学特性测试系统,具有高精度、宽测量范围、快速灵活、兼容性强等优势。产品可以同时支持DC电流-电压(I-V)、电容-电压(C-V)以及高流高压下脉冲式I-V特性的测试,旨在帮助加快前沿材料研究、半导体芯片器件设计以及先进工艺的开发,具有桌越的测量效率与可...

    • [其它类别] 微电测试数字源表 日期:2024-05-27 09:35:45点击:92

      微电测试数字源表优势:◾ 性能强大-作为电压源和或电流源,并同步测量电流和或电压,支持四象限工作。可以限定电压或电流输出大小,预防器件损坏。覆盖0-3A的电流范围0-300V的电压范围,全量程测量精度0.03%。◾ 灵活多样-支持两线制和四线制测量,更准确的低内阻量测;集成线性阶梯扫描、对数阶梯扫描、自定义扫...

    • [] 霍尔延时响应测试设备 日期:2024-05-10 09:30:33点击:312

      霍尔延时响应测试设备特点  1000A自动测试平台; 300A/us上升沿;    精度0.1%;  支持集成示波器、温控台; 正负极反转;             模块化设计;               ...

    • [] CV测试系统CV测试仪 日期:2024-05-10 09:30:01点击:304

      普赛斯半导体功率器件C-V测试系统主要由源表、LCR表、矩阵开关和上位机软件组成。LCR表支持的测量频率范围在0.1Hz~1MHz,源表(SMU)负责提供可调直流电压偏置,通过矩阵开关加载在待测件上。 进行 C-V 测量时,通常在电容两端施加直流偏压,同时利用一个交流信号进行测量。一般使用的交流信号频率在10KHz 到1MHz之间。所加载的...

    • [] 晶体管特性图示仪 日期:2024-05-10 09:29:48点击:310

      普赛斯以自主研发为导向,深耕半导体测试领域,在I-V测试上积累了丰富的经验,先后推出了直流源表,脉冲源表、脉冲恒流源、脉冲恒压源、功率器件静态测试系统、大功率激光器老化测试系统等测试设备,广泛应用于高校研究所、实验室,新能源,光伏,风电,轨交,变频器等场景。普赛斯全新升级S系列数字源表更大直流,更高精度,科研实验必...

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