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    • [其它类别] 多功能脉冲源表脉冲IV测试仪 日期:2024-06-03 09:26:46点击:40

      PXOOB系列多功能脉冲源表脉冲IV测试仪是普赛斯在直流源表的基础上新打造的一款高精度、大动态、数字触摸源表,汇集电压、电流输入输出及测量等多种功能,Z大脉冲输出电流达30A,Z大输出电压达300V,支持四象限工作,因此能广泛的应用于各种电气特性测试中。PXOOB系列源表适用于各行各业使用者,特别适合现代半导体、纳米器件和材料、...

    • [其它类别] 功率器件分析仪半导体功率测试设备 日期:2024-06-03 09:26:29点击:40

      静态特性测试挑战 随着半导体制程工艺不断提升,测试和验证也变得更加重要。通常,主要的功率半导体器件特性分为静态特性、动态特性、开关特性。静态参数特性主要是表征器件本征特性指标,与工作条件无关的相关参数,如很多功率器件的的静态直流参数(如击穿电压、漏电流、阈值电压、跨导、压降、导通内阻)等。 功率半导体器件是一种复...

    • [其它类别] SMU数字源表搭建晶圆级微电子材料器件测试系统 日期:2024-06-03 09:25:41点击:44

      在半导体材料和器件的研究中,电性能测试是必不可少的环节。随着半导体技术的提升,微电子工艺逐渐复杂,如何对微电子材料器件进行高效率测试成为业内关注的重点。普赛斯仪表陆续推出多型号国产化数字源表SMU,为进一步打通测试融合壁垒,打造闭环解决方案,通过对半导体高端测试装备上下游产业链的垂直整合,晶圆级微电子材料器件测...

    • [其它类别] 分立器件检测仪iv+cv测试仪 日期:2024-05-27 09:36:01点击:158

      概述: SPA-6100半导体参数分析仪是武汉普赛斯自主研发、精益打造的一款半导体电学特性测试系统,具有高精度、宽测量范围、快速灵活、兼容性强等优势。产品可以同时支持DC电流-电压(I-V)、电容-电压(C-V)以及高流高压下脉冲式I-V特性的测试,旨在帮助加快前沿材料研究、半导体芯片器件设计以及先进工艺的开发,具有桌越的测量效率与可...

    • [其它类别] 微电测试数字源表 日期:2024-05-27 09:35:45点击:134

      微电测试数字源表优势:◾ 性能强大-作为电压源和或电流源,并同步测量电流和或电压,支持四象限工作。可以限定电压或电流输出大小,预防器件损坏。覆盖0-3A的电流范围0-300V的电压范围,全量程测量精度0.03%。◾ 灵活多样-支持两线制和四线制测量,更准确的低内阻量测;集成线性阶梯扫描、对数阶梯扫描、自定义扫...

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