地区导航:华东地区 | 华南地区 | 华中地区 | 华北地区 | 西北地区 | 西南地区 | 东北地区 | 台港澳地区 | 海外地区
 

首页 > 包含“频”的产品搜索结果

所有类别
最新产品
    共搜索到 2399 个产品 免费发布信息
    • [光衰减损耗测试仪器] ISDN测试仪MTX150

      日期:2024-12-19 16:24:25点击:3708

      率测试图形设置网络类型,比特速率,线路码型,帧结构和测试图案净负荷映射装载和级联符合ITU-T G.707 标准符合ITU标准的完全比特错误分析错误和告警的产生和分析路径轨迹产生和分析G.783指针测试和分析APS自动保护开关/服务中断测试直方图错误和告警统计分析所有接口和有效载荷映射环路时延测试发送率拉偏和接收同步时钟SOH/POH...

    • [光衰减损耗测试仪器] FS200-100罗意斯光时域反射仪

      日期:2024-12-19 16:23:55点击:8382

      FlexScan OTDR 使网络新手和专家快速地、可靠地定位光网络故障,描述新安装的货维修的网络特征。使用FlexScan 的全新的SmartAuto 模式,多次OTDR 扫描可以快速和准确地检测、定位、确认和测量网络故障。使用工业标准的或用户自定义的通过/失败条件,可在FlexScan中创新的LinkMap上显示网络特性。FlexScan 自动实现测试设置...

    • [激光器] 窄线宽光纤激光器

      日期:2024-09-02 16:14:31点击:1825

      窄线宽光纤激光器 窄线宽光纤激光器定义:      •  窄线宽光纤激光器定义是辐射光谱很窄的单激光器,其激光器值存在一个谐振腔模式,相位噪声很低,因此光谱纯度很高且强度噪声很低。      •  光源激光器采用窄线宽DFB激光器,结合高性能硬件驱动电路,使...

    • [激光器] 脉冲锁模光纤激光器

      日期:2024-08-20 17:05:51点击:1416

      率稳定性,无跳模     •  低相对强度噪声脉冲锁模光纤激光器应用领域:     •  光纤传感     •  激光种子源     •  非线性光学研究脉冲锁模光纤激光器规格参数:参数指标Parameters单位Unit数值Valu...

    • [激光器] 脉冲锁模光纤激光器

      日期:2024-08-09 16:38:06点击:1178

      率稳定性,无跳模          非线性光学研究低相对强度噪声参数指标单位数值中心波长范围nm1550带宽nm10输出功率mW>10重复率GHZ1 GHz±20脉冲宽度PS10输出光纤类型SMF-28e/PM供电电压VDC5220产品尺寸mm150x125x30(模块)260×285×115(台式)订购信息ZG波长(nm)输出功率(mW)输出光纤连接头形...

    • [激光器] 窄线宽光纤激光器

      日期:2024-07-23 15:07:44点击:1184

      窄线宽光纤激光器 窄线宽光纤激光器定义:      •  窄线宽光纤激光器定义是辐射光谱很窄的单激光器,其激光器值存在一个谐振腔模式,相位噪声很低,因此光谱纯度很高且强度噪声很低。      •  光源激光器采用窄线宽DFB激光器,结合高性能硬件驱动电路,使...

    • [其它类别] 功率器件分析仪半导体功率测试设备

      日期:2024-06-03 09:26:29点击:1642

      率的环境下,对芯片的可靠性要求较高,这给测试带来了一定的困难。市面上传统的测量技术或者仪器仪表一般可以覆盖器件特性的测试需求,但是宽禁带半导体器件SiC(碳化硅)或GaN(氮化镓)的技术却极大扩展了高压、高速的分布区间。如何精确表征功率器件高流/高压下的I-V曲线或其它静态特性,这就对器件的测试工具提出更为严苛的挑战。 ...

    • [其它类别] 分立器件检测仪iv+cv测试仪

      日期:2024-05-27 09:36:01点击:1809

      AC电容测量。SPA-6100半导体参数分析仪搭载普赛斯自主开发的专用半导体参数测试软件,支持交互式手动操作或结合探针台的自动操作,能够从测量设置、执行、结果分析到数据管理的整个过程,实现高效和可重复的器件表征;也可与高低温箱、温控模块等搭配使用,满足高低温测试需求。分立器件检测仪iv+cv测试仪特点: 30μV-1200V,1pA-100A...

    • [] 霍尔延时响应测试设备

      日期:2024-05-10 09:30:33点击:1159

      器等场景。...

    • [] CV测试系统CV测试仪

      日期:2024-05-10 09:30:01点击:1174

      普赛斯半导体功率器件C-V测试系统主要由源表、LCR表、矩阵开关和上位机软件组成。LCR表支持的测量率范围在0.1Hz~1MHz,源表(SMU)负责提供可调直流电压偏置,通过矩阵开关加载在待测件上。 进行 C-V 测量时,通常在电容两端施加直流偏压,同时利用一个交流信号进行测量。一般使用的交流信号率在10KHz 到1MHz之间。所加载的...

    • 首页
    • 上一页
    • 下一页
    • 末页
    • 240