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使用它都能变成行业专家。 针对用户不同测试场景的使用需求，普赛斯全新推出PMST功率器件静态参数测试系统、PMST-MP功率器件静态参数半自动化测试系统、PMST-AP功率器件静态参数全自动化测试系统三款功事器件静态参数测试系统。详询一八一四零六六三四七六； 从实验室到小批量、大批量产线的全覆盖 从Si IGBT. SiC MOS到GaN HEMT...
使用，满足高低温测试需求。分立器件检测仪iv+cv测试仪特点： 30μV-1200V,1pA-100A宽量程测试能力； 测量精度高,全量程下可达0.03%精度； 内置标准器件测试程序，直接调用测试简便； 自动实时参数提取，数据绘图、分析函数； 在CV和IV测量之间快速切换而无需重新布线；提供灵活的夹具定制方案，兼容性强； 免费提供上位机软件及SCPI...
使用和查看。详询一八一四零六六三四七六； 多合一高精密SMU，简化测量 传统的半导体I-V特性测量方案通常是复杂且成本昂贵的，需要多种仪器配合完成测试，对不同仪器进行编程、同步、连接、测量和分析，既复杂又耗时，还需占用大量测试台空间。 S系列数字源表可作为独立的恒压源或恒流源、伏特计、安培计和欧姆表，还可用作...
普赛斯半导体功率器件C-V测试系统主要由源表、LCR表、矩阵开关和上位机软件组成。LCR表支持的测量频率范围在0.1Hz~1MHz，源表(SMU)负责提供可调直流电压偏置，通过矩阵开关加载在待测件上。 进行 C-V 测量时，通常在电容两端施加直流偏压，同时利用一个交流信号进行测量。一般使用的交流信号频率在10KHz 到1MHz之间。所加载的...
使用，满足高低温测试需求。 产品特点： 30μV-1200V,1pA-100A宽量程测试能力； 测量精度高,全量程下可达0.03%精度； 内置标准器件测试程序，直接调用测试简便； 自动实时参数提取，数据绘图、分析函数； 在CV和IV测量之间快速切换而无需重新布线；提供灵活的夹具定制方案，兼容性强； 免费提供上位机软件及SCPI指令集； 典型应用： ...
使用寿命 次切换107次后(插损≤0.7 dB)、109次后(插损≤0.9 dB)、1010次后(插损≤1.5dB)传输光功率 mW≤500切换时间 ms≤15（相邻信道切换）工作温度 °C-20～+70储存温度 °C-40～+85电 源 &nbs...
使产品工艺得到不断完善，努力成为国内大规模生产无源光学器件和有源生产的基地。...
使产品工艺得到不断完善，努力成为国内大规模生产无源光学器件和有源生产的基地。光纤准直器镀金管1.3x8光纤准直器镀金管1.3x8...
使AWG型光波分复用器件的插入损耗基本不随温度和入射光的变化而变化。在实现上，AWG光波分复用技术主要依靠光波导器件来实现不同波长的光波信号的合成和分割。这些光波导器件具有高稳定性、高精度和高可靠性等特点，可以满足现代通信网络的高要求。此外，AWG光波分复用技术还可以实现多种业务组合，如数据传输、语音通话、视频传输等...
保偏光纤阵列( PM-FA ) 描述 / Description保偏光纤阵列(PM-FA)多应用于相干光通信，保偏光纤能够使光波在传输过程中保持光波的偏振态不变，可以充分发挥相干接收的优越性。保偏光纤阵列是利用V形槽(即V槽，V-Groove)把一条保偏光纤带安装在阵列基片上，在保证光波偏振稳定措施下又能...
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