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MUnication ProtocolRS232通信协议ComMUnication Protocol...
AOI 8 air type LWDM TFF filter是一款专门为自由空间技术的三维结构微型尺寸LWDM MUx deMUx器件而设计的LWDM滤波片，它采用8度入射角设计来压缩LWDM器件的尺寸，采用入射面为波段反射面，透射面为对工作波长增透膜面的设计，适用光路无胶。它覆盖从1264.95nm到1332.41nm 全部16个常用O波段通道；膜层牢固度强，满足非气密性封装应用...
富光AOI 8°/13.5° epoxy type CWDM TFF filter 是专门为CWDM Z-BLOCK MUx deMUx 光学组件而设计的CWDM滤波片，它采用8°/13.5°度大入射角设计来压缩BLOCK尺寸，采用粘接面为波长工作膜面设计来消除滤波片双面加工公差带给光斑光束的偏移误差。它具有面型品质高，便于粘接，光束平行度高；膜层牢固度强，满足非气密性封装应用...
富光科技AOI 1.8 air type CWDM TFF filter是一款专门为三端口结构CWDM MUx deMUx器件而设计的CWDM应用滤波片，它采用入射面为波段反射面，透射面为对工作波长增透膜面的设计，适用光路无胶。它具有精准的全波段膜系透射和反射的节点管控准优势，不出现多通道器件（大于12个通道）工作波长范围内的掉点现象（在器件后端通道的通带内，...
在半导体材料和器件的研究中，电性能测试是必不可少的环节。随着半导体技术的提升，微电子工艺逐渐复杂，如何对微电子材料器件进行高效率测试成为业内关注的重点。普赛斯仪表陆续推出多型号国产化数字源表SMU，为进一步打通测试融合壁垒，打造闭环解决方案，通过对半导体高端测试装备上下游产业链的垂直整合，晶圆级微电子材料器件测...
MU，简化测量 传统的半导体I-V特性测量方案通常是复杂且成本昂贵的，需要多种仪器配合完成测试，对不同仪器进行编程、同步、连接、测量和分析，既复杂又耗时，还需占用大量测试台空间。 S系列数字源表可作为独立的恒压源或恒流源、伏特计、安培计和欧姆表，还可用作精密电子负载，其高性能架构允许其使用作为波形发生器、以...
普赛斯半导体功率器件C-V测试系统主要由源表、LCR表、矩阵开关和上位机软件组成。LCR表支持的测量频率范围在0.1Hz~1MHz，源表(SMU)负责提供可调直流电压偏置，通过矩阵开关加载在待测件上。 进行 C-V 测量时，通常在电容两端施加直流偏压，同时利用一个交流信号进行测量。一般使用的交流信号频率在10KHz 到1MHz之间。所加载的...
MUm Input Power23dBm工作温度/Operating Temperature-5+65℃储存温度/Storage Temperature-40+85℃光纤类型/Fiber TypeG657.A1/连接头/ConnectorLC/UPC/封装尺寸/Package size120X70X10mm〖订购信息Ordering information〗AWGXXXXXXXXXXXXBandNumber of ChannelsSpacing1st ChannelFilter ShapePackageFiber LengthIn/Out ConnectorC...
MUnication protocol-RS232可选配上位机软件Optional host computer software...
MUnication ProtocolRS232...
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