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SET2DIL / SET2SEILIntel發明的信號損失測試方法SET2DIL / SET2SEIL，現在已經可以在ACCU-Prober上實現了。ACCU-Prober目前完全支援這兩種測試方法，差分信號損失SET2DIL（Sdd21 Differential Insertion Loss）以及單端信號損失SET2SEIL (Sd21 Single Ended Insertion Loss)。ACCU-Prober with SET2DIL / SET2SEILACCU-Prober with SE...
SPPIBM公司發明的SPP(Short Pulse Propagation)測試方式，Introbotix公司與IBM合作開發出量產型SPP量測完整的解決方案，這個解決方案目前在ACCU-Prober平台上可以實現。ACCU-Prober with SPPACCU-Prober with SPP是設計來符合現今電路板產業越來越多高頻測試的需求，SPP的測試頻寬高達20 GHz。SPP使用一支簡單的測試探針就可以量測單...
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