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[其它生产测试] 出售维修回收 ACCU-Prober for SET2DIL
日期：2014-08-29 09:42:31点击：1993
SET2DIL / SET2SEILIntel發明的信號損失測試方法SET2DIL / SET2SEIL，現在已經可以在ACCU-Prober上實現了。ACCU-Prober目前完全支援這兩種測試方法，差分信號損失SET2DIL（Sdd21 Differential Insertion Loss）以及單端信號損失SET2SEIL (Sd21 Single Ended Insertion Loss)。ACCU-Prober with SET2DIL / SET2SEILACCU-Prober with SE...

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