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SiC、GaN等器件；能量与效率特性测试：LED/AMOLED、太阳能、电池、DC/DC转换器；传感器特性测试：电阻率、霍尔效应等；有机材料特性测试：电子墨水、印刷电子技术等；纳米材料特性测试：石墨烯、纳米线等；激光器特性测试：窄脉冲LIV测试系统；功率器件：静态测试系统；电流传感器：动静态参数测试系统；...
按压式 偏振控制器特点 应用低损耗高速电信系统紧凑型波分复用系统易于连接光纤激光器低成本光纤传感器系统 特点应用低损耗高速电信系统紧凑型波分复用系统易于连接光纤激光器低成本光纤传感器系统对波长变化不敏感保偏光纤系统适用于任何尺寸的光纤远程系统规格参数:插入损耗< 0.05 dB回波损耗> 65 dB工作波长405~1700nm消光...
高精度多通道光纤延迟线1fs产品特性延迟机械装置连续可靠工作宽延迟范围电动光延迟线产品特性 应用领域延迟机械装置 &...
霍尔延时响应测试设备特点 1000A自动测试平台； 300A/us上升沿； 精度0.1%； 支持集成示波器、温控台； 正负极反转； 模块化设计； ...
普赛斯半导体功率器件C-V测试系统主要由源表、LCR表、矩阵开关和上位机软件组成。LCR表支持的测量频率范围在0.1Hz~1MHz，源表(SMU)负责提供可调直流电压偏置，通过矩阵开关加载在待测件上。 进行 C-V 测量时，通常在电容两端施加直流偏压，同时利用一个交流信号进行测量。一般使用的交流信号频率在10KHz 到1MHz之间。所加载的...
普赛斯以自主研发为导向，深耕半导体测试领域，在I-V测试上积累了丰富的经验，先后推出了直流源表，脉冲源表、脉冲恒流源、脉冲恒压源、功率器件静态测试系统、大功率激光器老化测试系统等测试设备，广泛应用于高校研究所、实验室，新能源，光伏，风电，轨交，变频器等场景。普赛斯全新升级S系列数字源表更大直流,更高精度,科研实验必...
SiN串口数据接收端5SGND串口信号地8VCC电源正极，接DC 12/1A9GND电源负极其他悬空机械式光开关模块全国供应机械式光开关模块全国供应...
光环形器特性应用低插损光纤传感高消光比光纤激光器高稳定可靠性光纤放大器参数指标(单轴)参数单位规格类型-Type A端口类型-3 Ports4 Ports中心波长nm1310 or 1550工作波长带宽nm±30典型插入损耗 23℃dB0.71.1最大插入损耗23℃dB0.91.3典型峰值隔离度 23℃dB45最小隔离度23℃dB35典型消光比23℃dB18最小串扰dB50最...
电动光延迟线产品特性 应用领域延迟机械装置 雷达测试、校准连续可靠工作&n...
单纤/双纤准直器产品特点应用低损耗光纤实验用低回反激光束准直高环境稳定性光纤到光纤耦合参数P级波长(nm)1310±30nm,1550±30nm1310/1550±30nm,980/1550±30nm 或客户定插损（典型）（dB）0.17插损（最大）（dB）0.20回损(典型)65光束直径(mm)<0.5工作温度(℃)-20℃~＋75℃存储温度(℃)-40℃~＋85℃封装尺寸3.2×9 or 10mm...
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