Agilent/86038B /光色散和损耗分析仪
Agilent 86038B光色散和损耗分析仪集速度与精度于一身，可实现完整的光纤及元件测量，是开发和生产用理想设备。其测量基于行业标准的调制相位转换（MPS）法，由于该测试系统的结构是模块化的，用户还能定制其所需的配置方式以满足测试所需。Agilent 86038B光色散和损耗分析仪集速度与精度于一身，可实现完整的光纤及元件测量，是开发和生产用理想设备。其测量基于行业标准的调制相位转换（MPS）法，由于该测试系统的结构是模块化的，用户还能定制其所需的配置方式以满足测试所需。通过一次性对器件的连接，只需键一下按钮，86038就能测量光谱群延迟（GD）、色散（CD）、差分群延迟（DGD）、偏振模式色散（PMD）、插入损耗或增益（IL），以及偏振相关损耗（PDL）。此外，它还能进行非常精确的光纤长度测量。另外，高级矩阵分析还提供二阶偏振模式色散功能。86038B可用于各种波长选件，从而提供前所未有的从1260至1640 nm波长的精确测量；与Agilent 81600B可调谐激光源选件一同使用，还可对单束激光进行高达200 nm范围的测量。安捷伦可提供快速扫频波长测量的所有参数。86038B的主要应用包括：网络设备的设计和生产、特别是10 Gb/s和40 Gb/s传输设备；光纤制造、特别是当今用于CWDM系统的全频光纤；用于高速传输系统的色散补偿模块、光纤及DWDM滤波器的设计和生产。具有色散和损耗测试的全面特征，依赖波长和偏振，采用行业标准MPS方法，可确定光谱GD、CD、DGD、PMD、IL、PDL，分析二阶PMD、GD波形、零色散波长和CD 斜率，并准确地确定光纤或设备长度，提供快速扫频波长测量的所有参数，借助部分选件，其最广泛应用的波长范围可达1260-1640 nm，其中单独一个选件就能实现高达200 nm频段的扫描，为可选模块转换提供集成支持，用于多端口测试，提高了IL和PDL的精度，可用于重要元件测试，模块化的灵活特性，配有具有LAN、USB和GPIB接口的Windows操作系统，以及具有远程控制能力。
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