门户 | English | 新闻 | 技术 | 市场 | 商城 | 职场 | 专题 | 论坛 | 博客 | 光搜 | 手机版
地区导航:华东地区 | 华南地区 | 华中地区 | 华北地区 | 西北地区 | 西南地区 | 东北地区 | 台港澳地区 | 海外地区
 
首页 > 产品信息 > 生产测试 > 其它生产测试 > 光学晶片厚度综合测试仪

光学晶片厚度综合测试仪

发布时间：2014-02-17 信息有效期：60天 浏览：2343次 举报
光学晶片厚度综合测试仪
  • 信息分类：生产测试 - 其它生产测试
  • 所在区域：湖北省 - 武汉市
  • 有效日期：60天
  • 信息类型：产品信息
信息详情
晶圆厚度综合测试仪

特性：
-便携式尺寸
-高速测量（弯曲度500Hz/厚度1KHz）
-高精度和重复性
-高至6寸晶片测量
-Thickness/TTV/LTTV/WARP/BOW
-硅晶片/蓝宝石晶片/玻璃晶片/二氧化硅/砷化镓
-无需校准
-友好用户操作界面

关键字： 光学 厚度 综合 测试仪
相关信息
信息评论
共 0 条评论，点击查看  
表 情：         
验证码：验证码,看不清楚?请点击刷新验证码
同类产品推荐
最新产品
网站首页 | 关于我们 | 联系我们 | 法律条款 | 网站地图 |
Copyright @ 2002-2024 C-fol.Com All rights reserved. 粤ICP备10037996号
©版权所有 未经许可禁止转载、摘编、复制、镜像