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一、产品简介 10G误码测试系统(PSS BERT-I/II/III)是一台具有较高性价比的10G误码测试仪表。具有灵活方便的操作界面。它带有10G的XFP光口与SMA的电口，具有定时和搜索两种误码检测模式，不同型号覆盖不同速率：1.25G、2.5G、4.25G、5G、8.5G、 9.95328G、10.3125G、10.52G、10.709G、11.09G、11.31G等。可满足于对器件、模块和子系...
一、产品简介 40G误码测试系统(PSS BERT-F )40G误码测试仪是一款40G高速信号的误码性能分析仪，4路10G高速信号可以同时或者独立工作。该系列设备有定时和连续两种检测模式，且能够自定义各种不同的速率和测量所需的码型，可以对QSFP、CFP进行误码测试并存入到数据库中。 二、性能特点 Ø 通道模式：4个电...
一、产品简介 APD综合测试系统(PSS AIV)包括上位机和下位机。下位机是设备，实现所需电压电流信号的采集和处理。上位机是以PC机位平台，完成人机界面的信号显示与控制。上位机与下位机通过RS232相连。PSS AIV综合测试系统是精确测试雪崩二极管的光电性能参数的专用设备。 该设备主要测试的参数有击穿电压，暗电流...
一、产品简介 APD耦合光源(PSS ACP)提供1310nm、1490nm、1550nm的稳定光源，以及给被耦合的APD器件提供15-55V的高压扫描电源，主要应用于APD的ROSA/BOSA器件耦合生产与监测。可自动测试雪崩电压、响应电流，以及TIA工作电流，同时提供调制光源输出及外置示波器接口。系统集成了高压源、调制光源，其都具有很好的稳定性。 ...
一、产品简介BOSA器件性能综合测试系统(PSS-BOSA-x)是自动测试BOSA器件参数的测试系统。能快速测量APD器件击穿电压，响应度，灵敏度，饱和光功率等参数。通过可选的激光器选件，可进行LD参数的测试。整套系统可以自动快捷的完成BOSA，PIN-TIA(4脚，5脚Vpd以及5脚Mon）器件的各项参数测试，极大提高BOSA及PIN-TIA...
一、产品简介 PIN/APD器件综合测试系统(PSS RIV)包括上位机和下位机，下位机是主机。该设备可以进行APD综合测试和PIN-TIA综合测试（包含Vpd和Mon脚两种PIN-TIA接法）。APD综合测试可自动测试击穿电压、暗电流、工作电流、响应电流和接收信号强度，此外还能够定点输出APD工作电压和1-70V连续可调电压；Vap接法的PIN-TI...
一、品简介 TEC制冷器测试系统(PSS TEC-1)制冷器测试系统是专门用于测试半导体热电制冷片的性能参数。该系统由下位机和上位机组成，其中下位机提供多达10路通道同时测试， 上位机接收并保存数据。测试的参数包括：组件电阻R，优质系数Z，最大温差ΔTmax，最大温差电流ΔImax，最大温差电压ΔUmax，最大产冷量ΔQcmax...
一、 产品简介 TO-LD老化控制与实时监测系统(PSS AT/LDFAT)主要针对LD等半导体激光器老化控制与实时检测。单台设备能同时使最多40个LD激光器同时工作，并对LD的老化电流和背光电流实时监控，及时上报故障的器件并保存到数据库。按键可对每个器件恒流或者恒功率参数进行设置，也可通过上位机进行操作，提...
一 产品简介 巴条自动检测系统(PSS LB-1)主要用于巴条（LD芯片）的光电性能检测，系统可实现：LD的前光与背光测试、常温和高温区的测试、光谱测试等功能。系统集成了LIV测试仪、光谱分析仪，检测的参数包括：巴条前光LIV性能检测、巴条背光LIV性能检测、巴条光谱性能检测。 系统提供良好的人机互动上位机界面，可以实现巴...
一、产品简介 低速信号误码仪(PSS LBERT-XXX)低速误码测试仪测试信号速率为8K ～ 125Mbps连续可调，并支持9.6K、5.76K、11.5K、1M、2.048M等特殊速率，可输出TTL电平或ECL电平。 内置一个带接口协议的数据源，它同时对传回的数据流进行检测，并与数据源对比，得出接收的比特总数和接收的错误比特数，由高速微处理器计算出误码率...
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