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    共搜索到 4999 个产品 免费发布信息
    • [光放大器] 单波长掺铒光纤放大器

      日期:2024-08-09 16:34:56点击:498

      〖简介〗掺铒光纤放大器(EDFA )是专用于光纤激光或光纤通信系统的光功率放大器产品系列,具有高增益和低噪声的优点,支持上位机软件控制,体积小巧便于集成,可提供台或模块封装。〖规格参数〗参数指标单位最小值典型值最大值备注波长范围nm153015501565C-band预放大器 EDFA-PA输入功率dBm-45-30-25输出功率dBm-1010增益系数...

    • [其它光有源器件] opeak偏振分析仪

      日期:2024-07-29 14:11:09点击:1080

      下的“SOP回放”功能和高速追踪偏振态变化轨迹的特点。具体产品型号波长范围(nm)扫描速率(pts/s)方位角精度(度)椭圆率精度(度)尺寸(mm)通讯接口光功率(dBm)OPA100S650-110010-40+/-0.5+/-0.561.2X80X40USB-50-10OPA100L900-170010-40+/-0.5+/-0.561.2X80X40USB-50-10...

    • [激光器] 窄线宽光纤激光器

      日期:2024-07-23 15:07:44点击:742

      窄线宽光纤激光器 窄线宽光纤激光器定义:      •  窄线宽光纤激光器定义是辐射光谱很窄的单频激光器,其激光器值存在一个谐振腔模,相位噪声很低,因此光谱纯度很高且强度噪声很低。      •  光源激光器采用窄线宽DFB激光器,结合高性能硬件驱动电路,使...

    • [光放大器] 掺饵光纤放大器25dBm

      日期:2024-06-03 15:44:58点击:693

         掺饵光纤放大器简介高功率光纤放大器是专用于光纤激光或光纤通信系统的光功率放大器产品系列,具有高增益和低噪声的优点,支持上位机软件控制,体积小巧便于集成,可提供台或模块封装。特性应用宽工作波长范围光纤通信高增益系数高光纤传感高动态范围光纤激光器参数指标单位最小值1550典型值最大值备注波长范围nm131...

    • [激光器] 可调谐光纤激光器

      日期:2024-06-03 15:30:30点击:784

      光纤激光器简介光纤激光器采用DFB半导体激光芯片,单模光纤输出,专业设计的驱动电路与TEC控制保证激光安全稳定工作,可提供台或模块封装。特性                     应用    功率和光谱稳定              ...

    • [其它类别] 多功能脉冲源表脉冲IV测试仪

      日期:2024-06-03 09:26:46点击:1033

      ,支持线性扫描、指数扫描及用户自定义扫描•支持USB存储,一键导出测试报告•支持多种通讯方,RS-232、GPIB及以太网 脉冲源表应用•分立半导体器件特性测试,电阻、二极管、发光二极管、齐纳二极管、PIN二极管、BJT三极管、MOSFET、SIC等•能量与效率特性测试,LED/AMOLED、太阳能电池、电池、DC-DC转换器...

    • [其它类别] 功率器件分析仪半导体功率测试设备

      日期:2024-06-03 09:26:29点击:1009

      器件,兼有高输入阻抗和低导通压降两方面的优点:同时半导体功率器件的芯片属于电力电子芯片,需要工作在大电流、高电压、高频率的环境下,对芯片的可靠性要求较高,这给测试带来了一定的困难。市面上传统的测量技术或者仪器仪表一般可以覆盖器件特性的测试需求,但是宽禁带半导体器件SiC(碳化硅)或GaN(氮化镓)的技术却极大扩展了高...

    • [其它类别] SMU数字源表搭建晶圆级微电子材料器件测试系统

      日期:2024-06-03 09:25:41点击:1026

      ,如四探针、三同轴等更可靠:广泛应用:利用普赛斯这套国产化高精度数字源表+探针台的测试系统,可以为您完成任何晶圆、芯片、微小电子器件的测试。目前,普赛斯仪表已拥有涵盖直流源表、脉冲源表、窄脉冲源、大电流脉冲源、高电流源、高电压源、大功率激光器测试电源、插卡源表、数据采集卡、脉冲恒压源等完整的国产化数字源表解...

    • [其它类别] 分立器件检测仪iv+cv测试仪

      日期:2024-05-27 09:36:01点击:1220

      概述: SPA-6100半导体参数分析仪是武汉普赛斯自主研发、精益打造的一款半导体电学特性测试系统,具有高精度、宽测量范围、快速灵活、兼容性强等优势。产品可以同时支持DC电流-电压(I-V)、电容-电压(C-V)以及高流高压下脉冲I-V特性的测试,旨在帮助加快前沿材料研究、半导体芯片器件设计以及先进工艺的开发,具有桌越的测量效率与可...

    • [其它类别] 微电测试数字源表

      日期:2024-05-27 09:35:45点击:1018

      ;专业l-V特性及半导体参数测试软件。◾ 易学实用-简化了如I-V和l-t/V-t曲线等各种应用的测量准备工作。电容触摸屏图形用户界面(GUI),提供图形化和数字化两种测量结果显示模,便于使用和查看。详询一八一四零六六三四七六; 多合一高精密SMU,简化测量  传统的半导体I-V特性测量方案通常是复杂且成本昂贵的,...

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