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应用： 纳米、柔性等材料特性分析； 二极管； MOSFET、BJT、晶体管、IGBT； 第三代半导体材料/器件； 有机OFET器件； LED、OLED、光电器件； 半导体电阻式等传感器； EEL、VCSEL、PD、APD等激光二极管； 电阻率系数和霍尔效应测量； 太阳能电池； 非易失性存储设备； 失效分析；更多有关分立器件检测仪iv+cv测试仪详情找普赛斯仪表专...
应用的测量准备工作。电容式触摸屏图形用户界面(GUI),提供图形化和数字化两种测量结果显示模式，便于使用和查看。详询一八一四零六六三四七六； 多合一高精密SMU，简化测量 传统的半导体I-V特性测量方案通常是复杂且成本昂贵的，需要多种仪器配合完成测试，对不同仪器进行编程、同步、连接、测量和分析，既复杂又耗时，还需...
按压式 偏振控制器特点 应用低损耗高速电信系统紧凑型波分复用系统易于连接光纤激光器低成本光纤传感器系统 特点应用低损耗高速电信系统紧凑型波分复用系统易于连接光纤激光器低成本光纤传感器系统对波长变化不敏感保偏光纤系统适用于任何尺寸的光纤远程系统规格参数:插入损耗< 0.05 dB回波损耗> 65 dB工作波长405~1700nm消光...
高精度多通道光纤延迟线1fs产品特性延迟机械装置连续可靠工作宽延迟范围电动光延迟线产品特性 应用领域延迟机械装置 &...
霍尔延时响应测试设备特点 1000A自动测试平台； 300A/us上升沿； 精度0.1%； 支持集成示波器、温控台； 正负极反转； 模块化设计； ...
普赛斯以自主研发为导向，深耕半导体测试领域，在I-V测试上积累了丰富的经验，先后推出了直流源表，脉冲源表、脉冲恒流源、脉冲恒压源、功率器件静态测试系统、大功率激光器老化测试系统等测试设备，广泛应用于高校研究所、实验室，新能源，光伏，风电，轨交，变频器等场景。普赛斯全新升级S系列数字源表更大直流,更高精度,科研实验必...
机械式光开关产品特点应用插入损耗极低无源光网络体积小光保护系统低信道串扰测量系统高稳定性网络监控工作波长 （nm） 532~980（MM）532~980（SM）1260~1620（MM）1260~1620（SM）测试波长(可选)nm650/780/850/980650/780/850/9801310/1490/1550/16251310/1490/1550/1653插入损耗 &nb...
光环形器特性应用低插损光纤传感高消光比光纤激光器高稳定可靠性光纤放大器参数指标(单轴)参数单位规格类型-Type A端口类型-3 Ports4 Ports中心波长nm1310 or 1550工作波长带宽nm±30典型插入损耗 23℃dB0.71.1最大插入损耗23℃dB0.91.3典型峰值隔离度 23℃dB45最小隔离度23℃dB35典型消光比23℃dB18最小串扰dB50最...
电动光延迟线产品特性 应用领域延迟机械装置 雷达测试、校准连续可靠工作&n...
单纤/双纤准直器产品特点应用低损耗光纤实验用低回反激光束准直高环境稳定性光纤到光纤耦合参数P级波长(nm)1310±30nm,1550±30nm1310/1550±30nm,980/1550±30nm 或客户定插损（典型）（dB）0.17插损（最大）（dB）0.20回损(典型)65光束直径(mm)<0.5工作温度(℃)-20℃~＋75℃存储温度(℃)-40℃~＋85℃封装尺寸3.2×9 or 10mm...
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