概述 该设备为100G 产品误码测试仪。可用于光器件、高速电缆、光模块以及通讯系统的研发和生产测试。支持1.25Gbps~14.5Gbps以及 25-29Gbps 之间的任意速率。 应用 l 适用于各种类型光模块 (QSFP28,CFP2,CFP4,SFP28,SFP+,QSFP+,CFP )以及子系统的误码测试 l 适用于各种有源、无源电缆、有源光纤...
CFP2, CFP4, QSFP28,SFP+,XFP,X2, Xenpak, XPAK), transponders, linecards, and subsystems; 2. Testing of opto-electronic components and devices (TOSA, ROSA, lasers, etc.); 3. Testing of Gbps ICs, PCBs, electronic modules, subsystems, and systems 4. Serial bus and high-speed backplane design; ...
概述 该设备为100G 产品误码测试仪。可用于光器件、高速电缆、光模块以及通讯系统的研发和生产测试。支持1.25Gbps~14.5Gbps以及 25-29Gbps 之间的任意速率。 应用 l 适用于各种类型光模块 (QSFP28,CFP2,CFP4,SFP28,SFP+,QSFP+,CFP )以及子系统的误码测试 l 适用于各种有源、无源电缆、有源光纤...
CFP2, CFP4, QSFP28,SFP+,XFP,X2, Xenpak, XPAK), transponders, linecards, and subsystems; 2. Testing of opto-electronic components and devices (TOSA, ROSA, lasers, etc.); 3. Testing of Gbps ICs, PCBs, electronic modules, subsystems, and systems 4. Serial bus and high-speed backplane design; ...
概述 该设备为100G 产品误码测试仪。可用于光器件、高速电缆、光模块以及通讯系统的研发和生产测试。支持1.25Gbps~14.5Gbps以及 25-29Gbps 之间的任意速率。 应用 l 适用于各种类型光模块 (QSFP28,CFP2,CFP4,SFP28,SFP+,QSFP+,CFP )以及子系统的误码测试 l 适用于各种有源、无源电缆、有源光纤...
概述 该设备为100G 产品误码测试仪。可用于光器件、高速电缆、光模块以及通讯系统的研发和生产测试。支持1.25Gbps~14.5Gbps以及 25-29Gbps 之间的任意速率。 应用 l 适用于各种类型光模块 (QSFP28,CFP2,CFP4,SFP28,SFP+,QSFP+,CFP )以及子系统的误码测试 l 适用于各种有源、无源电缆、有源光纤...
CFP2, CFP4, QSFP28,SFP+,XFP,X2, Xenpak, XPAK), transponders, linecards, and subsystems; 2. Testing of opto-electronic components and devices (TOSA, ROSA, lasers, etc.); 3. Testing of Gbps ICs, PCBs, electronic modules, subsystems, and systems 4. Serial bus and high-speed backplane design; ...
该设备为100G 产品误码测试仪。可用于光器件、高速电缆、光模块以及通讯系统的研发和生产测试。支持1.25Gbps~14.5Gbps以及 25-29Gbps 之间的任意速率。 应用 l 适用于各种类型光模块 (QSFP28,CFP2,CFP4,SFP28,SFP+,QSFP+,CFP )以及子系统的误码测试 l 适用于各种有源、无源电缆、有源光纤的误码测...
概述 该设备为100G 产品误码测试仪。可用于光器件、高速电缆、光模块以及通讯系统的研发和生产测试。支持1.25Gbps~14.5Gbps以及 25-29Gbps 之间的任意速率。 应用 l 适用于各种类型光模块 (QSFP28,CFP2,CFP4,SFP28,SFP+,QSFP+,CFP )以及子系统的误码测试 l 适用于各种有源、无源电缆、有源光纤...
CFP2, CFP4, QSFP28,SFP+,XFP,X2, Xenpak, XPAK), transponders, linecards, and subsystems; 2. Testing of opto-electronic components and devices (TOSA, ROSA, lasers, etc.); 3. Testing of Gbps ICs, PCBs, electronic modules, subsystems, and systems 4. Serial bus and high-speed backplane design; ...