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SF28, QSFP-DD, and beyond. Specification： Parameter Unit Specifications Channel number CH 4 Channel center wavelengths nm 1295.56/1300.05/1304.58/1309.14 Opera...
SF28, QSFP-DD, and beyond Specification： Parameter Unit Specifications Channel number CH 4 Channel center wavelengths nm 1271,1291,1311,1331 ...
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富光科技Mini DWDM mux demux breakout cable产品是基于TFF技术和free space光程压缩的微型WDM技术平台，针对Breakout Cable所需的封装瘦身和出纤保护特点，进行二次开发而推出的新一代带DWDM合波分波功能的可分支光缆，它具有超低插损、超小截面积尺寸、激光焊接气密性封装、抗侧拉光纤保护和高温度稳定的特性，广泛应用于室内外DWDM...
SFET、SIC等•能量与效率特性测试，LED/AMOLED、太阳能电池、电池、DC-DC转换器等•传感器特性测试，电阻率、霍尔效应等•有机材料特性测试，电子墨水、印刷电子技术等 •纳米材料特性测试，石墨烯、纳米线等...
SFET. BJT、 IGBT到宽禁带半导体SiC、GaN等晶圆、芯片、器件及模块的静态参数表征和测试，并具有卓越的测量效率、一致性与可靠性。让任何工程师使用它都能变成行业专家。 针对用户不同测试场景的使用需求，普赛斯全新推出PMST功率器件静态参数测试系统、PMST-MP功率器件静态参数半自动化测试系统、PMST-AP功率器件静态参数...
SFET、BJT、晶体管、IGBT； 第三代半导体材料/器件； 有机OFET器件； LED、OLED、光电器件； 半导体电阻式等传感器； EEL、VCSEL、PD、APD等激光二极管； 电阻率系数和霍尔效应测量； 太阳能电池； 非易失性存储设备； 失效分析；更多有关分立器件检测仪iv+cv测试仪详情找普赛斯仪表专员为您解答一八一四零六六三四七六...
SFET管测试；三极管测试- LIV：PIN管扫描测试- Gummer：双台源表使用同样参数进行扫描微电测试数字源表应用领域：分立器件特性测试：电阻、二极管、发光二极管、齐纳二极管、PIN二极管、BJT三极管、MOSFET、SiC、GaN等器件；能量与效率特性测试：LED/AMOLED、太阳能、电池、DC/DC转换器；传感器特性测试：电阻率、霍尔效...
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