新的ORL-55 SMART光回损测试仪是一台高性能、易于使用的仪表,适合于现场、实验室与生产使用。它在一台面向现场应用的仪表内结合了三个不同的功能,包括一个光回损测试仪、一个光功率计,以及一个三波长激光源。
ORL-55 SMART 光回损测试仪-美国JDSU产品特点:
2个或3个波长上的高精度 ORL 测试 (单模 1310、1490、1550、1625 nm)
三合一仪表:回损测试仪/功率计/激光源
TRIPLEtest 功能用于在三个波长上同时执行实时测试
自动调零功能(正在申请专利)用于提高测试精度
内部数据存贮以及PC机软件能够获得有效的文件与精确的报告
内置实时时钟
能够用于 FTTx
*选配*光缆故障定位选件(635nm波长)。可用于光纤跟踪,定向及连续检查。通用拔插式适配器(标配2.5mm,选配1.25mm)
*选配*USB数据存储选件。通过U盘存储可扩大内存容量,快速方便的将存储数据导出
ORL-55 SMART 光回损测试仪-美国JDSU技术参数:
回损测试模式 | |
可选波长选项 |
1310/1550 nm 1310/1490/1550 nm 1310/1550/1625 nm |
光谱带宽(RMS) |
< 5 nm 显示范围0 dB 到 70 dB |
测量精度 |
±0.7 dB |
分辨力 |
0.01 dB |
激光源模式 | |
可选波长选项 |
1310/1550 nm 1310/1490/1550 nm 1310/1550/1625 nm |
光谱带宽(RMS) |
< 5 nm |
最大输出功率 |
-3 dBm |
可调衰减 |
0到7 dB |
稳定度 |
±0.02 dB |
工作模式 |
连续波(CW) 调制:270 Hz,1 kHz,2 kHz, 自动波长(λ) |
功率计模式 | |
波长范围 |
1260~1650 nm |
出厂校准波长 |
1310/1550/1625 nm |
用户校准波长 |
1260到1650nm,以1nm间隔 |
光探测器 |
锗(GE) |
显示模式 |
dB/dBm/W |
显示范围 |
-70到+6 dBm |
最大输入电平 |
+6 dBm |
分辨力 |
0.01 dB,0.001 W |
测量精度 |
±0.4 dB |
其他指标:
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