Agilent 8509C光偏振分析仪覆盖L波段，可对光信号和元件进行宽工作范围的测量。自动的测量步骤简化了PMD、PDL和保偏光纤对准。对于10至40Gb/s测试，8509C可测量至0.01ps的偏振模式色散。对光信号和材料偏振特性的快速和精确的测量可帮助开发更高性能的光元件和系统，以及低成本的制造流程。
| 性能特性 |
| ? |
波长工作范围： 1280 nm 至 1640 nm |
| ? |
分辨率： 1 fs |
| ? |
偏振状态测量速率： >3500 ∕秒 |
| ? |
PMD 测量范围： 0.01 ps (10 fs) 至 400 ps (取决于设置条件)
AGILENT 8509B光波极化分析仪可对光信号或光器件进行校准过的极化测试。 这些功能是建立在硬件、软件和算法革新性突破的基础之上的.8509B可提供包括极化状态测试、极化模式色散测试、极化相关损耗测试和极化保偏光纤对准等功能。
特点：
1.对光信号和光器件进行全面的极化状态分析
2.两种PMD分析方法：波长扫描法和JONES矩阵法
3.极化保偏光纤的对准 | |
|