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    共搜索到 6598 个产品 免费发布信息
    • [光放大器] 掺饵光纤放大器25dBm

      日期:2024-06-03 15:44:58点击:128

         掺饵光纤放大器简介高功率光纤放大器是专用于光纤激光或光纤通信统的光功率放大器产品列,具有高增益和低噪声的优点,支持上位机软件控制,体积小巧便于集成,可提供台式或模块式封装。特性应用宽工作波长范围光纤通信高增益数高光纤传感高动态范围光纤激光器参数指标单位最小值1550典型值最大值备注波长范围nm131...

    • [光开关] 1310nmMEMS光开关1x32

      日期:2024-06-03 15:03:34点击:100

      MEMS光开关特性                应用无移动组件                 无源光网络切换速度快                 光保护统极其稳定的锁存模块         ...

    • [其它类别] 多功能脉冲源表脉冲IV测试仪

      日期:2024-06-03 09:26:46点击:119

      PXOOB列多功能脉冲源表脉冲IV测试仪是普赛斯在直流源表的基础上新打造的一款高精度、大动态、数字触摸源表,汇集电压、电流输入输出及测量等多种功能,Z大脉冲输出电流达30A,Z大输出电压达300V,支持四象限工作,因此能广泛的应用于各种电气特性测试中。PXOOB列源表适用于各行各业使用者,特别适合现代半导体、纳米器件和材料、...

    • [其它类别] 功率器件分析仪半导体功率测试设备

      日期:2024-06-03 09:26:29点击:105

      列功率器件分析仪半导体功率测试设备是武汉普赛斯正向设计,精益打造的高精密电压/电流测试分析统,是一致能够提供IV,CV、跨导等丰富功能的综合测试统,具有高精度、宽测量范围、模块化设计、轻松升级扩展等优势,旨在全面满足从基础功率二极管、MOSFET. BJT、 IGBT到宽禁带半导体SiC、GaN等晶圆、芯片、器件及模块...

    • [其它类别] SMU数字源表搭建晶圆级微电子材料器件测试

      日期:2024-06-03 09:25:41点击:116

      统应运而生!普赛斯数字源表SMU是整个测试统的核心部分,用户可以根据材料器件不同的电流、电压,配置不同规格参数的源表和探针台。详询一八一四零六六三四七六;更高效:灵活测试:体积小巧,节省实验台空间接线简单,无需繁杂的同步触发操作适应多种测量模式,如四探针、三同轴等更可靠:广泛应用:利用普赛斯这套国产化高精度数字...

    • [其它类别] 分立器件检测仪iv+cv测试仪

      日期:2024-05-27 09:36:01点击:215

      概述: SPA-6100半导体参数分析仪是武汉普赛斯自主研发、精益打造的一款半导体电学特性测试统,具有高精度、宽测量范围、快速灵活、兼容性强等优势。产品可以同时支持DC电流-电压(I-V)、电容-电压(C-V)以及高流高压下脉冲式I-V特性的测试,旨在帮助加快前沿材料研究、半导体芯片器件设计以及先进工艺的开发,具有桌越的测量效率与可...

    • [其它类别] 微电测试数字源表

      日期:2024-05-27 09:35:45点击:180

      列数字源表可作为独立的恒压源或恒流源、伏特计、安培计和欧姆表,还可用作精密电子负载,其高性能架构允许其使用作为波形发生器、以及自动电流-电压(I-V)表征统。极大缩短测试统的开发、建立和维护的时间,同时节省测试架或测试台的宝贵“空间”,降低购买测试统的整体成本。 四象限工作,可以作为源或负载 电源象限是指以...

    • [其它光无源器件] 按压式 偏振控制器

      日期:2024-05-13 14:34:47点击:344

      按压式 偏振控制器特点 应用低损耗高速电信统紧凑型波分复用统易于连接光纤激光器低成本光纤传感器统 特点应用低损耗高速电信统紧凑型波分复用统易于连接光纤激光器低成本光纤传感器统对波长变化不敏感保偏光纤统适用于任何尺寸的光纤远程统规格参数:插入损耗< 0.05 dB回波损耗> 65 dB工作波长405~1700nm消光...

    • [] 霍尔延时响应测试设备

      日期:2024-05-10 09:30:33点击:351

      统集多种测量和分析功能一体,可精准测量各种电流传感器(霍尔电流传感器、罗氏线圈、皮尔森线圈等)的静态与动态参数,单台大电流源电流可高达1000A。该统可测量不同电流传感器的静态与动态参数,具有大电流特性、极快的达到300A/us级上升沿、可测量KHz级带宽等特点,能实现零点漂移、线性度、温度漂移曲线、带宽、响应时间等参...

    • [] CV测试统CV测试仪

      日期:2024-05-10 09:30:01点击:344

      普赛斯半导体功率器件C-V测试统主要由源表、LCR表、矩阵开关和上位机软件组成。LCR表支持的测量频率范围在0.1Hz~1MHz,源表(SMU)负责提供可调直流电压偏置,通过矩阵开关加载在待测件上。 进行 C-V 测量时,通常在电容两端施加直流偏压,同时利用一个交流信号进行测量。一般使用的交流信号频率在10KHz 到1MHz之间。所加载的...

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