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一家集研究、开发、生产、销售于一体的高科技企业。位于中国科技城——绵阳，旗下拥有子公司“cofiber"。公司拥有*光器件生产工艺和设备，拥有一批经验丰富的工程技术人员和生产员，并与北美几家光通讯公司及中国的光通讯研究机构合作，不断地开发新的生产工艺和产品，使产品工艺得到不断完善，努力成为国内大规模生产无源光学器件和...
PXOOB系列多功能脉冲源表脉冲IV测试仪是普赛斯在直流源表的基础上新打造的一款高精度、大动态、数字触摸源表，汇集电压、电流输入输出及测量等多种功能，Z大脉冲输出电流达30A，Z大输出电压达300V，支持四象限工作，因此能广泛的应用于各种电气特性测试中。PXOOB系列源表适用于各行各业使用者，特别适合现代半导体、纳米器件和材料、...
静态特性测试挑战 随着半导体制程工艺不断提升，测试和验证也变得更加重要。通常，主要的功率半导体器件特性分为静态特性、动态特性、开关特性。静态参数特性主要是表征器件本征特性指标，与工作条件无关的相关参数，如很多功率器件的的静态直流参数(如击穿电压、漏电流、阈值电压、跨导、压降、导通内阻)等。 功率半导体器件是一种复...
在半导体材料和器件的研究中，电性能测试是必不可少的环节。随着半导体技术的提升，微电子工艺逐渐复杂，如何对微电子材料器件进行高效率测试成为业内关注的重点。普赛斯仪表陆续推出多型号国产化数字源表SMU，为进一步打通测试融合壁垒，打造闭环解决方案，通过对半导体高端测试装备上下游产业链的垂直整合，晶圆级微电子材料器件测...
概述： SPA-6100半导体参数分析仪是武汉普赛斯自主研发、精益打造的一款半导体电学特性测试系统，具有高精度、宽测量范围、快速灵活、兼容性强等优势。产品可以同时支持DC电流-电压(I-V)、电容-电压(C-V)以及高流高压下脉冲式I-V特性的测试，旨在帮助加快前沿材料研究、半导体芯片器件设计以及先进工艺的开发，具有桌越的测量效率与可...
一八一四零六六三四七六； 多合一高精密SMU，简化测量 传统的半导体I-V特性测量方案通常是复杂且成本昂贵的，需要多种仪器配合完成测试，对不同仪器进行编程、同步、连接、测量和分析，既复杂又耗时，还需占用大量测试台空间。 S系列数字源表可作为独立的恒压源或恒流源、伏特计、安培计和欧姆表，还可用作精密电子负载，其...
一八一四零六六三四七六产品简介 电流传感器测试系统集多种测量和分析功能一体，可精准测量各种电流传感器（霍尔电流传感器、罗氏线圈、皮尔森线圈等）的静态与动态参数，单台大电流源电流可高达1000A。该系统可测量不同电流传感器的静态与动态参数，具有大电流特性、极快的达到300A/us级上升沿、可测量KHz级带宽等特点，能实现零点漂...
普赛斯半导体功率器件C-V测试系统主要由源表、LCR表、矩阵开关和上位机软件组成。LCR表支持的测量频率范围在0.1Hz~1MHz，源表(SMU)负责提供可调直流电压偏置，通过矩阵开关加载在待测件上。 进行 C-V 测量时，通常在电容两端施加直流偏压，同时利用一个交流信号进行测量。一般使用的交流信号频率在10KHz 到1MHz之间。所加载的...
一八一四零六六三四七六 概述： SPA-6100半导体参数分析仪是武汉普赛斯自主研发、精益打造的一款半导体电学特性测试系统，具有高精度、宽测量范围、快速灵活、兼容性强等优势。产品可以同时支持DC电流-电压(I-V)、电容-电压(C-V)以及高流高压下脉冲式I-V特性的测试，旨在帮助加快前沿材料研究、半导体芯片器件设计以及先进工艺的开发...
一家集研究、开发、生产、销售于一体的高科技企业。位于中国科技城——绵阳，旗下拥有子公司“cofiber"。公司拥有*光器件生产工艺和设备，拥有一批经验丰富的工程技术人员和生产员，并与北美几家光通讯公司及中国的光通讯研究机构合作，不断地开发新的生产工艺和产品，使产品工艺得到不断完善，努力成为国内大规模生产无源光学器件和...
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