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一、产品简介 6G高速信号多通道误码测试系统(PSS BERT-S6000/D6000)误码测试系统为适应客户需要，采用高速电路技术，FPGA技术、嵌入式技术的自主开发误码测试系统，误码测试覆盖速率为：1.0625G，1.25G，2.25G，2.5G，3.07G，4.25G，5G，6.14G等。发射部分提供SMA（电口）和SFP（光口）两种接口组合，可适合相关速率器件的...
一、产品简介 PSS 2.5G高速信号多通道误码测试仪（PSS BERT-S2500/D2500）用于ROSA、BOSA、光收发模块等接收信号的误码测试。为满足不同用户的使用方便，开发了不同速率、不同接口、不同通道的误码测试系统：SFP（光接口）和SMA（电接口）；单通道、双通道、三通道；不同速率：125M～2.5G、155M～4.25G、1.0625G～5G。 ...
一、产品简介 10G误码测试系统(PSS BERT-I/II/III)是一台具有较高性价比的10G误码测试仪表。具有灵活方便的操作界面。它带有10G的XFP光口与SMA的电口，具有定时和搜索两种误码检测模式，不同型号覆盖不同速率：1.25G、2.5G、4.25G、5G、8.5G、 9.95328G、10.3125G、10.52G、10.709G、11.09G、11.31G等。可满足于对器件、模块和子系...
一、产品简介 40G误码测试系统(PSS BERT-F )40G误码测试仪是一款40G高速信号的误码性能分析仪，4路10G高速信号可以同时或者独立工作。该系列设备有定时和连续两种检测模式，且能够自定义各种不同的速率和测量所需的码型，可以对QSFP、CFP进行误码测试并存入到数据库中。 二、性能特点 Ø 通道模式：4个电...
一、产品简介 APD综合测试系统(PSS AIV)包括上位机和下位机。下位机是设备，实现所需电压电流信号的采集和处理。上位机是以PC机位平台，完成人机界面的信号显示与控制。上位机与下位机通过RS232相连。PSS AIV综合测试系统是精确测试雪崩二极管的光电性能参数的专用设备。 该设备主要测试的参数有击穿电压，暗电流...
一、产品简介 APD耦合光源(PSS ACP)提供1310nm、1490nm、1550nm的稳定光源，以及给被耦合的APD器件提供15-55V的高压扫描电源，主要应用于APD的ROSA/BOSA器件耦合生产与监测。可自动测试雪崩电压、响应电流，以及TIA工作电流，同时提供调制光源输出及外置示波器接口。系统集成了高压源、调制光源，其都具有很好的稳定性。 ...
一、产品简介 PIN/APD器件综合测试系统(PSS RIV)包括上位机和下位机，下位机是主机。该设备可以进行APD综合测试和PIN-TIA综合测试（包含Vpd和Mon脚两种PIN-TIA接法）。APD综合测试可自动测试击穿电压、暗电流、工作电流、响应电流和接收信号强度，此外还能够定点输出APD工作电压和1-70V连续可调电压；Vap接法的PIN-TI...
一、品简介 TEC制冷器测试系统(PSS TEC-1)制冷器测试系统是专门用于测试半导体热电制冷片的性能参数。该系统由下位机和上位机组成，其中下位机提供多达10路通道同时测试， 上位机接收并保存数据。测试的参数包括：组件电阻R，优质系数Z，最大温差ΔTmax，最大温差电流ΔImax，最大温差电压ΔUmax，最大产冷量ΔQcmax...
一 产品简介 巴条自动检测系统(PSS LB-1)主要用于巴条（LD芯片）的光电性能检测，系统可实现：LD的前光与背光测试、常温和高温区的测试、光谱测试等功能。系统集成了LIV测试仪、光谱分析仪，检测的参数包括：巴条前光LIV性能检测、巴条背光LIV性能检测、巴条光谱性能检测。 系统提供良好的人机互动上位机界面，可以实现巴...
一、产品简介 低速信号误码仪(PSS LBERT-XXX)低速误码测试仪测试信号速率为8K ～ 125Mbps连续可调，并支持9.6K、5.76K、11.5K、1M、2.048M等特殊速率，可输出TTL电平或ECL电平。 内置一个带接口协议的数据源，它同时对传回的数据流进行检测，并与数据源对比，得出接收的比特总数和接收的错误比特数，由高速微处理器计算出误码率...
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