一、产品简介
PIN/APD器件综合测试系统(PSS RIV)包括上位机和下位机，下位机是主机。该设备可以进行APD综合测试和PIN-TIA综合测试（包含Vpd和Mon脚两种PIN-TIA接法）。APD综合测试可自动测试击穿电压、暗电流、工作电流、响应电流和接收信号强度，此外还能够定点输出APD工作电压和1-70V连续可调电压；Vap接法的PIN-TIA综合测试可以测试工作电流、响应电流和暗电流；Mon接法的PIN-TIA综合测试可以测试工作电流和响应电流。
系统上位机是以PC机为平台，完成人机界面的APD和PIN-TIA测量参数的显示
与控制并自动保存测试结果，上位机与下位机通过RS232通信接口相连。
本系统测试速度快、精度高、体积小、性能稳定可靠。
二、性能特点
Ø 系统由测试仪和上位机两部分组成。
Ø APD自动测量出击穿电压、暗电流、工作电流、响应度和接收信号强度,也可以单独只测试一个项。
Ø 测试时间快，Vbr﹑Idark﹑Icc总测试时间在2s内完成，所有参数在4s内完成。
Ø 进行暗电流、响应电流和接收强度测试时，测试条件可以选择Vbr-x、Vbr*x或者x下测试。
Ø 输出0-70V连续可调电压，电压可调步进0.1V。
Ø 可以测量Vpd和Mon脚PIN-TIA两种测试，也可单独测试PIN的暗电流。
Ø 提供850nm、1310nm、1490nm和1550nm四种工作波长，可选择三种或者4种波长。
Ø 系统自带数据库，可保存APD测试的数据。
Ø 测试仪的传输接口开放，用户可以选用自己的上位机软件来采集数据。
Ø 液晶和上位机可以同时显示测量的结果。
Ø 电源和加电开关具备缓冲电保护电路，防过冲、反冲、ESD和浪涌等保护电路。
Ø 用户误操作时提供报警指示，最大限度减少用户的损失。
Ø 可以选择定制110V电压工作。
三、技术参数
表1. APD技术指标
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参 数 |
指 标 |
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测量参数 |
APD击穿电压、暗电流、工作电流、响应电流、接收强度 |
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输出电压源 |
0-70V，重复精度0.1V,分辨率可达0.02V |
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Vbr |
击穿电压，重复精度0.1V,分辨率0.02V，测量时间<0.4秒 |
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Id |
暗电流，范围：0-250nA；重复精度1nA，分辨率0.2nA，测量时间<1.0秒 |
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Icc |
TIA电流，范围：0-80mA，重复精度1mA，分辨率0.1mA，测量时间<0.2秒 |
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Iapd |
响应电流，范围：0-120uA，重复精度1uA，分辨率0.1uA，测量时间<0.5秒 |
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Rssi |
接收信号强度，范围：0-200uA，重复精度1uA，分辨率0.1uA ，测量时间<0.5秒 |
表2 .PIN-TIA（Vpd）性能指标
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参 数 |
指 标 |
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测量参数 |
Vapd接法的PIN-TIA测试：工作电流测试、响应电流测试和暗电流测试 |
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Icc |
TIA电流，范围：0-80mA，重复精度1mA，分辨率0.1mA，测量时间<0.2秒 |
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Iapd |
响应电流，范围：0-120uA，重复精度1uA，分辨率0.1uA，测量时间<0.5秒 |
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Idark |
暗电流，范围：0-250nA；重复精度1nA，分辨率0.2nA，测量时间<1.0秒 |
表3. PIN-TIA（Mon）性能指标
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参 数 |
指 标 |
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测量参数 |
Mon接法的PIN-TIA测试：工作电流测试、响应电流测试 |
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Icc |
TIA电流，范围：0-80mA，重复精度1mA，分辨率0.1mA，测量时间<0.2秒 |
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Iapd |
响应电流，范围：0-120uA，重复精度1uA，分辨率0.1uA，测量时间<0.5秒 |
表4.其他性能指标
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参 数 |
指 标 |
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输出光源 |
850nm、1310nm、1490nm和1550nm四种工作波长选择； |
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校正功能 |
用户可自行校准各项参数（用户只能对结果进行K值乘积校准，一般不推荐使用） |
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TIA过流保护点和设置 |
保护电流（可以软件设置）；采用机械开关选择TIA加3.3V/5V |
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上位机 |
提供VC版上位机驱动，协议开放，用户可自己编写上位机 |
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电源 |
AC220V±10% /50H或者AC110V±10%
/50H |
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工作和存储温度 |
工作温度：0-40℃；存储温度：0 - 40℃ |
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尺寸（mm） |
200×183×97 |
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质保期 |
一年 |
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