- 在封装或主动温度控制之前简化了激光二极管LIV测试
- * 芯片(chip)或棒料(bar) 阶段的激光二极管LIV生产测试的综合解决方案
- * 可通过编程将扫描（sweep）停在光功率极限上
- * 针对脉冲与DC测试的高精度源与测量性能的完美结合
- * 基于同步DSP的测量通道确保了高精度的光强度与电压测量
- * 脉宽从 500ns～5ms，占空比可达4%的可编程脉冲
- * 脉冲模式电流可达5A，直流模式可达1A
- * 三个测量通道14位的测量精度（VF、前光电二极管、后光电二极管）
- * 测量算法增强了脉冲测量的信噪比
- * 缓冲存储器高达1000点的扫描存储能力，消除了测试过程的GPIB流量，增大了测试产能
- * 数字I/O binning与handling操作
- * IEEE-488 与 RS-232 接口
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