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EXFO WA-7100、WA-7600多波长计 1. 业界波长精度最高，测量置信度最高（3s）。WA－7600精度为0.2ppm。其经济型WA－7100的波长精度亦是优于同业的最好值 两倍（1ppm）。具有内置的HeNe激光器用于连续的波长校准。波长计精确度优于±0.02pm。基于Michelson 干涉仪原理，长达20多年的制造经验。自动的色散、温度和...
压等参数实时检测显示 Ø 采用复合按键实现多种组合功能，增强设备灵活性 Ø 支持自动、手动换挡，客户亦可选配脚踏板实现相关功能 Ø 支持用户多参数自行校准（包括驱动电流、光功率、正向电压、背光电流等） Ø 内置高效防浪涌保护电路，慢启动电路，实现激...
1、概述RCML耦合仪可以进行APD耦合测试和PIN-TIA耦合测试（包含Vpd和Mon脚两种PIN-TIA接法）。APD耦合功能：自动测试击穿电压和响应电流，其中响应电流的测量还可以根据用户需求设定Vbr*x、Vbr-x和x三种种模式，x能够定点输出APD工作电压和0-70V连续可调电压。 PIN-TIA耦合功能：Vap接法的PIN-TIA耦合测试可以测试工作电流、响应电...
压切换，可选择5V和3.3V。 Ø 实时信号检测及波形显示。 Ø PIN、TIA电流自动检测和显示，支持用户手动校准。 Ø 支持RS232通信接口。 三、技术参数 参 数 指 标 激光器类型 (850nm)VCSEL型、...
1、概述 L-I-V测试仪包括上位机和下位机。下位机是主机，实现所需电压电流信号的采集和处理。上位机是以PC机位平台，完成人机界面的信号显示与控制。上位机与下位机通过RS232相连。PSS LIV-2是精确测试半导体激光器LD、TOSA或BOSA的激光器的光电性能参数与性能曲线的专用设备，根据光输入接口的选择，可以测试850nm、1310nm、1490n...
压，作为外接测试板的电源。系统工作可选按键操作或上位机操作两种方式，为了解决按键的易损及手胶并用提高测试效率，设备留有脚踏按键接口。二、性能特点Ø 多种检测模式：SMA（电口）和SFP（光口）Ø 多速率选择：125M,155.52M，622.08M，1.25G，2.5G，4.25GØ 多种码型：PRBS7、PRBS23、PRBS31，CJT...
一、产品简介 APD综合测试系统(PSS AIV)包括上位机和下位机。下位机是设备，实现所需电压电流信号的采集和处理。上位机是以PC机位平台，完成人机界面的信号显示与控制。上位机与下位机通过RS232相连。PSS AIV综合测试系统是精确测试雪崩二极管的光电性能参数的专用设备。 该设备主要测试的参数有击穿电压，暗电流...
一、产品简介 APD耦合光源(PSS ACP)提供1310nm、1490nm、1550nm的稳定光源，以及给被耦合的APD器件提供15-55V的高压扫描电源，主要应用于APD的ROSA/BOSA器件耦合生产与监测。可自动测试雪崩电压、响应电流，以及TIA工作电流，同时提供调制光源输出及外置示波器接口。系统集成了高压源、调制光源，其都具有很好的稳定性。 ...
一、产品简介BOSA器件性能综合测试系统(PSS-BOSA-x)是自动测试BOSA器件参数的测试系统。能快速测量APD器件击穿电压，响应度，灵敏度，饱和光功率等参数。通过可选的激光器选件，可进行LD参数的测试。整套系统可以自动快捷的完成BOSA，PIN-TIA(4脚，5脚Vpd以及5脚Mon）器件的各项参数测试，极大提高BOSA及PIN-TIA...
一、产品简介 PIN/APD器件综合测试系统(PSS RIV)包括上位机和下位机，下位机是主机。该设备可以进行APD综合测试和PIN-TIA综合测试（包含Vpd和Mon脚两种PIN-TIA接法）。APD综合测试可自动测试击穿电压、暗电流、工作电流、响应电流和接收信号强度，此外还能够定点输出APD工作电压和1-70V连续可调电压；Vap接法的PIN-TI...
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