RCML耦合仪可以进行APD耦合测试和PIN-TIA耦合测试（包含Vpd和Mon脚两种PIN-TIA接法）。APD耦合功能：自动测试击穿电压和响应电流，其中响应电流的测量还可以根据用户需求设定Vbr*x、Vbr-x和x三种种模式，x能够定点输出APD工作电压和0-70V连续可调电压。
PIN-TIA耦合功能：Vap接法的PIN-TIA耦合测试可以测试工作电流、响应电流，其中PIN电压可以选择3.3V或者5V；Mon接法的PIN-TIA耦合测试可以测试工作电流和响应电流。
2、产品特点及技术指标
2.1 产品特点
Ø APD自动测量出击穿电压、响应度和接收信号强度。
Ø 响应电流测试条件可以选择Vbr-x、Vbr*x或者x 。
Ø 输出0--70V连续可调电压。
Ø 可以测量Vpd和Mon脚PIN-TIA耦合测试。
Ø 提供850nm、1310nm、1490nm和1550nm四种工作波长
Ø 电源和加电开关具备缓冲电保护电路，防过冲、反冲、ESD和浪涌等保护电路。
Ø 用户误操作时提供报警指示，最大限度减少用户的损失。
2.2 技术指标
表2.1 APD性能指标
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参 数 |
指 标 |
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测量参数 |
APD击穿电压、工作电流、响应度 |
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输出电压源 |
0-70V，重复精度0.1V |
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Vbr |
击穿电压，重复精度0.1V，分辨率0.02V，测量时间<0.4秒 |
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Iapd |
响应电流，范围：0-120uA，重复精度1uA，分辨率0.1uA，测量时间<0.5秒 |
表2.2 PIN-TIA（IN）性能指标
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参 数 |
指 标 |
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测量参数 |
Vapd接法的PIN-TIA测试：工作电流测试、响应电流测试和暗电流测试 |
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Icc |
TIA电流，范围：0-80mA，重复精度1mA，分辨率0.1mA，测量时间<0.2秒 |
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Iapd |
响应电流，范围：0-120uA，重复精度1uA，分辨率0.1uA，测量时间<0.5秒 |
表2.3 PIN-TIA（OUT）性能指标
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参 数 |
指 标 |
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测量参数 |
Mon接法的PIN-TIA测试：工作电流测试、响应电流测试 |
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Icc |
TIA电流，范围：0-80mA，重复精度1mA，分辨率0.1mA，测量时间<0.2秒 |
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Iapd |
响应电流，范围：0-120uA，重复精度1uA，分辨率0.1uA，测量时间<0.5秒 |
表2.4其他性能指标
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参 数 |
指 标 |
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输出光源 |
850nm、1310nm、1490nm和1550nm四种工作波长选择；2M调制光源，光功率大于-10dBm，用户可定制；功率长期稳定指标（+/-0.1db） |
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TIA电压设置 |
采用机械开关设置 |
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上位机 |
提供VC版上位机驱动，协议开放，用户可自己编写上位机 |
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电源 |
AC220V±10% /50Hz |
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工作和存储温度 |
工作温度：0-40 |
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尺寸 |
200×183× |
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质保期 |
一年 |
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