首页 > 产品信息 > 生产测试 > 干涉仪

SuperViewW1白光干涉仪中图仪基于白光干涉原理，不仅用于零件的检测，还是一种在生产中用于检测轧制产品表面缺陷的设备，能完成缺陷尺寸的在线检测。 产品功能1）设备提供表征微观形貌的粗糙度和台阶高、角度等轮廓尺寸测量功能；2）测量中提供自动对焦、自动找条纹、自动调亮度等自动化辅助功能；3）测量中提供自动拼接测量、定...

非接触3d光学轮廓仪能够以优于纳米级的分辨率，测试各类表面并自动聚焦测量工件获取2D，3D表面粗糙度、轮廓等一百余项参数，主要用于质量控制和检测应用。在汽车、建筑和建筑、医疗、半导体和电子、能源和电力、重型机械、采矿等领域都有广泛应用。SuperViewW1非接触3d光学轮廓仪以白光干涉技术为原理、结合精密Z向扫描模块、3D 建模...

SuperViewW1白光干涉仪品牌仪器是一款非接触测量样品表面形貌的光学测量仪器。它能够以优于纳米级的分辨率，测试各类表面并自动聚焦测量工件获取2D，3D表面粗糙度、轮廓等一百余项参数，广泛应用于光学，半导体，材料，精密机械等等领域。特别在微电子、微机械、微光学等领域，可以提供更高精度的检测需求。技术参数产品型号：SuperVi...

随着白光干涉测量技术的发展和完善，在微电子、微机械、微光学等领域，白光干涉检测仪可以提供更高精度的检测需求。 中图仪器SuperViewW1白光干涉仪属于3D测量领域检测的高精度检测仪器之一，其在同等系统放大倍率下检测精度和重复精度都高于共聚焦显微镜和聚焦成像显微镜，在一些纳米级和亚纳米级超精密加工领域，除了白光干涉...

白光干涉仪目前在3D检测领域是精度最高的测量仪器之一，在同等系统放大倍率下检测精度和重复精度都高于共聚焦显微镜和聚焦成像显微镜，在一些纳米级和亚纳米级的超精密加工领域，除了白光干涉仪，其它的仪器无法达到其测量精度要求。中图仪器SuperView W1白光干涉仪 白光干涉仪测量原理：　　白光干涉仪是利用光学干涉原理研制开...

BINNA自动单芯干涉仪是维度科技研发的全自动、非接触式的光纤端面干涉仪；该光纤端面干涉仪采用红光干涉测量原理，使用光学方法不但可对单芯光纤连接器的光纤端面的几何参数如曲率半径、顶点偏移、光纤高度等参数进行测试，也可对光线切割角度以及裸插芯的端面几何参数进行测试。BINNA已通过Telcordia认证能够保证测试数据准确有效、...

BINNA-MT 单多芯一体式干涉仪是一台全自动、非接触式光纤端面干涉仪，该光纤端面干涉仪用于检测多芯连接器包括MPO，MTP，MTRJ等的端面几何参数，如光纤高度，X、Y角度，曲率半径，光纤凹陷等，而且其拥有的红光测试模式也能够兼顾单芯的测试。经过精心设计的软件能够在极快的速度下重建端面的三维图像，12芯多芯连接器的检测速度最快...

SANA单芯干涉仪是维度科技研发的非接触式光纤端面干涉仪；该干涉仪不但可用于测量单芯光纤连接器的光纤端面几何参数如：曲率半径（ROC），顶点偏移（APEX OFFSET），光纤高度（Fiber Height）等，还具有测量裸插芯，裸光纤等其他器件的端面几何参数的功能，可应用于多种测试场合。 SANA单芯干涉仪具有自动居中功能以及自动适应光纤位...

本干涉仪由一个通过前面板BNC接口的、带增强调制的PZ1低截面光纤拉伸器驱动。Michelson型和Mach-Zehnder型干涉仪的工作波长是1064nm到1550 nm。每个干涉仪都是 “零米”光程失配，这为改变延迟长度去适应不同的测试应用提供了很大的灵活性。标准长度是50米。 产品应用： ·激光相位/频率噪声测试 ·干涉传感仿真 ·光程非平衡干涉...

  用途:   采用白光相移显微干涉技术，测量光纤端面纳米级形貌参数： Ø 曲率半径 (ROC) Ø 顶点偏移 (Apex Offset) Ø 光纤高度 Ø APC光纤连接器的研磨角度 Ø APC光纤连接器定位键的角度 性能特点:      三次元非...